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熱釋電系數(shù)是如何定義?測量試驗儀器?

日期:2025-04-04 08:35
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摘要:測量熱釋電系數(shù)的方法主要有動態(tài)法和靜態(tài)法。動態(tài)法通過調(diào)制樣品溫度(通常是正弦波形式)來測量熱釋電系數(shù),而靜態(tài)法則是通過連續(xù)加熱方式使樣品升溫,測量熱釋電電荷與溫度的關系來求得熱釋電系數(shù)。動態(tài)法通常用于測量某一基準溫度下的熱釋電系數(shù),而靜態(tài)法測量的是一個溫度范圍內(nèi)的平均響應。

一、什么是熱釋電系數(shù)?

熱釋電系數(shù)是描述熱釋電材料自發(fā)極化強隨溫度變化率的物理量。它定義為自發(fā)極化強度( P )隨溫度( T )的變化率 ( \frac{dP}{dT} ),英文名為pyroelectric coefficient。這個系數(shù)反映了由于溫度變化而引起電介質(zhì)極化強度變化的響應關系的比例系數(shù)。

熱釋電效應是指熱釋電晶體的自發(fā)極化強度隨溫度變化而改變的現(xiàn)象,而熱釋電系數(shù)則是表征這種效應強弱的參數(shù)。例如,可以用表達式 ( \Delta P = p \cdot \Delta T ) 來表示,其中 ( \Delta P ) 是極化強度的變化量,( p ) 是熱釋電系數(shù),( \Delta T ) 是溫度變化量。

測量熱釋電系數(shù)的方法主要有動態(tài)和靜態(tài)法。動態(tài)法通過調(diào)制樣品溫度(通常是正弦波形式)來測量熱釋電系數(shù),而靜態(tài)法則是通過連續(xù)加熱方式使樣品升溫,測量熱釋電電荷與溫度的關系來求得熱釋電系數(shù)。動態(tài)法通常用于測量某一基準溫度下的熱釋電系數(shù),而靜態(tài)法測量的是一個溫度范圍內(nèi)的平均響應。


二、試驗儀器:華測熱釋電系數(shù)測試儀(動態(tài)電流法)

壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外,還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后,就具有了各向異性,每項性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應用的重要基礎。 

本設備可以分析被測樣品熱釋電系數(shù)隨溫度、時間變化的曲線,通過軟件將這些變化曲線的溫度譜、時間譜等集成一體并進行分析測量并可以直接得出樣品的熱釋電圖譜。對試樣大小及形狀無特殊要求,圓片、方塊、長條、柱形等均可測量,可廣泛用于鐵電、壓電材料(壓電陶瓷、高分子)以及相關器件性能的評價與測試。    

本試驗儀器采用動態(tài)電流法測量壓電陶瓷材料的熱釋系數(shù),熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)的功能就是實現(xiàn)對微弱熱釋電電流信號和溫度信號的實時測量。其構成可以分為:熱釋電樣品加熱、溫度測量、升降溫速度控制、熱釋電電流測量和測量數(shù)據(jù)處理通過工業(yè)計算機數(shù)據(jù)處理,得出壓電陶瓷材料的熱釋電系數(shù)。

 熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)基于熱釋電動態(tài)電流法設計,由溫度控制器、加熱爐體、微電流放大器、溫度測試儀以及計算機軟件系統(tǒng)組成。溫度控制器控制加熱爐體內(nèi)部溫度;樣品的電流信號通過微電流放大器、輸入到計算機;而溫度信號則直接通過溫度測試儀傳送到計算機。能測量具有熱釋電性能的單晶、陶瓷、厚膜及薄膜材料樣品, 適用范圍廣。

試驗儀器參數(shù):

測量溫度:室溫~200℃;

控溫精度:±0.5℃,

測溫精度:±0.5℃;

升溫斜率:1-5℃/min(可控);

降溫斜率:1-5℃/min(可控);

電流放大器:AD4530

電流范圍:fA (10?12A)~20mA

電壓采集輸入阻抗:1X1012Ω




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